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快速高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)又叫熱流儀，氣壓沖擊試驗(yàn)機(jī)等，適用于光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)的設(shè)備。

熱流儀工作原理適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

超快速冷熱沖擊熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

超快速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、半導(dǎo)體芯片、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、溫度沖擊測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試失效分析等可靠性試驗(yàn)。

超高速高低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快。